ClickStack 常见问题

有关 ClickStack 告警、仪表盘、下钻和指标发现的常见问题解答。

本页汇总了有关 ClickStack 各项功能的常见问题，包括告警、仪表盘与下钻，以及指标发现。

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告警

ClickStack 支持哪些类型的告警？

ClickStack 支持两种类型的告警：

• 搜索告警 — 当某个时间窗口内匹配的日志或 trace 结果数量超过或低于阈值时触发通知。
• 仪表盘图表告警 — 当仪表盘卡片上绘制的某项指标越过设定阈值时触发通知。

这两类告警都使用静态阈值条件。完整说明请参见 告警。

我可以针对复杂的指标条件（例如比率、p95/p99 或多指标公式）设置告警吗？

两个指标的比率、p95 和 p99 值都可以通过 图表构建器 UI 绘制到仪表盘卡片上。然后，您可以基于这些卡片创建阈值告警。

不过，ClickStack 目前还不支持：

• 针对指标使用自定义 SQL 查询进行告警。
• 将多个条件或多个指标组合成单条告警规则。
• 动态告警条件或基于异常检测的告警条件 (异常检测已在规划中) 。

如果您需要为复杂指标设置告警，推荐做法是先将其构建为仪表盘图表，再为该图表添加阈值告警。

我可以将 materialized views 用于告警场景吗？

在适用的情况下，ClickStack 会自动在告警中使用 materialized views。不过，OpenTelemetry 指标数据源目前还不支持 materialized views。对于指标，ClickStack 与默认的 ClickHouse OpenTelemetry metrics schema 配合效果最佳。有关 materialized views 的更多信息，请参见 Materialized views。

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仪表盘与下钻

ClickStack 是否支持参数化仪表盘或仪表盘变量？

ClickStack 支持仪表盘中的自定义下拉过滤器，过滤器选项由从 ClickHouse 查询的数据填充。这些过滤器可让你根据特定值 (例如服务名称、环境或主机) 动态限定仪表盘上所有卡片的范围。

ClickStack 目前尚不支持类似 Grafana 模板变量的可复用仪表盘变量。由于 ClickStack 仅使用 ClickHouse 作为数据源，因此无需额外的变量抽象层，也能原生提供下钻和过滤能力。

有关创建仪表盘和应用过滤器的详细信息，请参阅 仪表盘。

支持哪些下钻能力？

ClickStack 支持以下下钻工作流：

• 仪表盘级过滤 —— 在仪表盘级别应用的 Lucene 或 SQL 过滤器以及时间范围调整，会同步到所有卡片。
• 自定义仪表盘过滤器 —— 自定义仪表盘支持专门的过滤控件，其选项取自你的数据，因此用户无需手动编写查询即可限定所有卡片的范围。
• 点击查看事件 —— 点击仪表盘卡片中的数据并选择 View Events 后，会跳转到 搜索 页面，并自动带上适用于日志和 trace 数据的相关过滤器。
• 预置仪表盘下钻 —— Services、ClickHouse 和 Kubernetes 仪表盘提供更丰富的内置跨标签页下钻导航。

目前尚不支持从一个自定义仪表盘下钻到另一个自定义仪表盘的多级下钻 (仪表盘 → 仪表盘 → 详情视图) 。

View Events 下钻最适用于日志和 trace 数据。由于无法在 搜索 页面中查看指标数据，因此从指标卡片下钻时，会改为链接到所选时间点附近的日志。

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指标发现

是否有用于浏览和搜索指标的 UI？

可通过图表构建器中的指标名称下拉菜单查看可用的指标名称。选择某个指标后，指标属性浏览器 面板会显示该指标的描述、单位以及可用属性及其值。这样，你就可以浏览这些属性，并直接在该面板中将其添加为过滤器或分组字段。

目前还没有类似日志搜索体验的专用指标搜索页面。改进指标发现能力仍是当前积极推进的开发方向。

对于指标，基于 SQL 的发现方式会是预期的长期方案吗？

不是。虽然目前可以使用 SQL 查询来发现指标，但这并不是预期的长期方案。更完善的指标发现工具正在积极开发中。

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延伸阅读

• 告警 — 搜索告警、仪表盘图表告警和 webhook 集成。
• 仪表盘 — 创建可视化、构建仪表盘和应用过滤器。
• 搜索 — 使用 Lucene 和 SQL 语法查询日志和链路追踪。
• Schemas — 适用于日志、链路追踪和指标的 OpenTelemetry 数据 schema。
• 架构 — ClickStack 的各个组件及其协同工作方式。